[发明专利]高分辨质谱仪负离子模式低质量区的质量校正试剂盒及校正方法有效

专利信息
申请号: 201510030498.0 申请日: 2015-01-21
公开(公告)号: CN104597114A 公开(公告)日: 2015-05-06
发明(设计)人: 钟鸿英;唐雪妹;黄璐璐;张文洋 申请(专利权)人: 华中师范大学
主分类号: G01N27/64 分类号: G01N27/64
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 乔宇
地址: 430079 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于质谱检测领域,涉及一种高分辨质谱仪负离子模式低质量区的质量校正试剂盒及校正方法。所述质量校正试剂盒包括半导体纳米材料悬浮液、游离脂肪酸标准溶液和MALDI样品靶清洗液;所述校正方法包括:调节质谱仪样品靶和狭缝电压差为20伏特;取半导体纳米材料悬浮液滴于样品靶表面,待溶剂完全挥发干燥;取游离脂肪酸标准溶液滴于所述半导体纳米材料的表面,待溶剂完全挥发干燥,将样品靶放入质谱仪进行质量校正,仪器校正后所得校正系数可用于校正样品质谱检测结果。本发明所述校正试剂盒能有效进行MALDI质谱仪负离子模式低质量区的校正,质谱信号没有背景干扰,能够进行小分子化合物质量的准确测定,相对误差小于6ppm。
搜索关键词: 分辨 质谱仪 负离子 模式 质量 校正 试剂盒 方法
【主权项】:
一种高分辨质谱仪负离子模式低质量区的质量校正试剂盒,其特征在于,包括半导体纳米材料悬浮液、游离脂肪酸标准溶液和MALDI样品靶清洗液。
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