[发明专利]一种射频系统芯片性能测试方法及装置在审
| 申请号： | 201510051841.X | 申请日： | 2015-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN104618037A | 公开（公告）日： | 2015-05-13 |
| 发明（设计）人： | 邓任钦;梁晨;胡汝佳 | 申请（专利权）人： | 深圳市大疆创新科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人： | 王仲凯 |
| 地址： | 518055 广东省深圳市南山区高新技术产业*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种射频系统芯片性能测试方法及装置，所述方法包括：从射频系统芯片的通信端的第一信号接口输入预设信号到射频系统芯片的通信端，预设信号包括单音信号及多音信号中的至少一种；从射频系统芯片的通信端的第二信号接口采集信号，对采集到的信号进行测量处理得到通信端的性能参数。本发明的实施例能够方便快捷地实现射频系统芯片的性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 系统 芯片 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种射频系统芯片性能测试方法，其特征在于，包括：从所述射频系统芯片的通信端的第一信号接口输入预设信号到所述射频系统芯片的通信端，所述预设信号包括单音信号及多音信号中的至少一种；从所述射频系统芯片的通信端的第二信号接口采集信号，对采集到的信号进行测量处理得到所述通信端的性能参数。
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