[发明专利]塞曼背景校正光路及其系统有效
申请号: | 201510067759.6 | 申请日: | 2015-02-10 |
公开(公告)号: | CN104655272B | 公开(公告)日: | 2018-07-24 |
发明(设计)人: | 杜江;张舜生;甄长伟 | 申请(专利权)人: | 北京海光仪器有限公司 |
主分类号: | G01J3/02 | 分类号: | G01J3/02;G02B27/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100015 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种塞曼背景校正光路及其系统。包括:光源发出光,恒定磁场和原子化器接收光源发出的光和将光发送到第一半透半反镜,第一半透半反镜接收光、将光分成第一光束和第二光束,并将第一光束沿直线发送到第一洛匈棱镜以及将第二光束沿垂直方向反射到第一全反射镜,第一洛匈棱镜将第一光束发送到切光器,第一全反射镜接收第二光束和将第二光束发送到第二洛匈棱镜,第二洛匈棱镜接收第二光束和将第二光束发送到第二全反射镜,第二全反射镜将第二光束发送到切光器,切光器机通过旋转切光片遮挡第一光束和第二光束两者之一的光束,并将未被遮挡的光束发送到单色器和检测器。增强了仪器的稳定性和可靠性。 | ||
搜索关键词: | 全反射镜 棱镜 切光器 半透半反镜 背景校正 光路 光源 遮挡 检测器 恒定磁场 原子化器 单色器 接收光 切光片 反射 | ||
【主权项】:
1.一种塞曼背景校正光路,其特征在于,包括:光源,恒定磁场和原子化器,第一半透半反镜,第一洛匈棱镜,第一全反射镜,第二洛匈棱镜,第二全反射镜,切光器以及单色器和检测器,其中,所述光源发出光,所述恒定磁场和原子化器接收所述光源发出的光和将所述光发送到所述第一半透半反镜,所述第一半透半反镜接收所述光、将所述光分成第一光束和第二光束,并将所述第一光束沿直线发送到所述第一洛匈棱镜以及将所述第二光束沿垂直方向反射到所述第一全反射镜,所述第一洛匈棱镜将第一光束发送到所述切光器,所述第一全反射镜接收所述第二光束和将所述第二光束发送到所述第二洛匈棱镜,所述第二洛匈棱镜接收所述第二光束和将所述第二光束发送到所述第二全反射镜,所述第二全反射镜将第二光束发送到所述切光器,所述切光器机通过旋转切光片遮挡所述第一光束和所述第二光束两者之一的光束,并将未被遮挡的光束发送到所述单色器和检测器。
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