[发明专利]主动元件阵列基板及其检测方法

摘要

一种主动元件阵列基板及其检测方法，其中主动元件阵列基板包括多个像素结构、驱动电路、多条信号线以及控制线。多个像素结构配置于显示区内，驱动电路配置于显示区之外，多条信号线电性连接驱动电路与相应的该些像素结构，控制线与该多条信号线相互交错。本申请所提供的检测方法适于检测主动元件阵列基板上的缺陷，首先，从该多条信号线中选定待测信号线，再导通控制线与待测信号线，接着，由控制线输入测试信号至待测信号线，以判定缺陷的位置，最后再绝缘控制线与待测信号线。

主权项

一种检测方法，适于检测一主动元件阵列基板上的缺陷，其特征在于，该主动元件阵列基板包括：多个像素结构，配置于一显示区内；一驱动电路，配置于该显示区之外；多条信号线，电性连接该驱动电路与相应的该些像素结构；以及一控制线，位于该驱动电路与该显示区之间，与该多条信号线相互交错；该检测方法包括：从该多条信号线中选定一待测信号线；于显示区之外导通该控制线与该待测信号线；由该控制线输入一测试信号至该待测信号线，以判定该缺陷的位置；以及绝缘该控制线与该待测信号线。