[发明专利]半导体制造装置有效
申请号: | 201510100817.0 | 申请日: | 2015-03-06 |
公开(公告)号: | CN105428273B | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 深山真哉;尾山幸史;三浦正幸 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的实施方式提供一种能够提高在上下两个面具有凸块电极的半导体芯片的凸块连接性及连接可靠性的半导体制造装置。实施方式的半导体制造装置(1)具备:键合头(2),其包括弹性体夹头(5)及夹头保持器(6),所述弹性体夹头(5)与在两个面设置着凸块电极(42、44)的半导体芯片(4)的一表面抵接并进行吸附,所述夹头保持器(6)保持弹性体夹头(5);平台(3),其载置被连接零件(7),所述被连接零件(7)具有与凸块电极(44)对应的被连接电极(72);及驱动机构,其使键合头(2)与平台(3)相对移动以使半导体芯片(4)移动到被连接零件(7)上,且对半导体芯片(4)施加荷重。弹性体夹头(5)及夹头保持器(6)中的至少一者的接触面在包含凸块电极(44)的形成区域的正上方的位置具备凸部(62)。 | ||
搜索关键词: | 半导体芯片 凸块电极 夹头 半导体制造装置 被连接零件 夹头保持器 键合头 连接可靠性 连接电极 驱动机构 凸块连接 相对移动 抵接 荷重 凸部 吸附 载置 施加 移动 | ||
【主权项】:
1.一种半导体制造装置,其特征在于具备:键合头,其包括弹性体夹头、及夹头保持器,且能对抵接在所述弹性体夹头的半导体芯片进行吸附,所述弹性体夹头具有第一面及第二面,所述第一面与在芯片主体的一面侧设置着第一凸块电极、且在所述芯片主体的另一面侧设置着第二凸块电极的所述半导体芯片的所述一面侧的表面抵接,所述第二面与所述第一面为相反侧,所述夹头保持器具有与所述弹性体夹头的所述第二面相接的面且保持所述弹性体夹头;平台,其能载置被连接零件,所述被连接零件具有以与所述第二凸块电极对应的方式设置的被连接电极;及驱动机构,其能以使所述第二凸块电极的位置对准所述被连接电极,并且同时使所述半导体芯片移动到所述被连接零件上的方式,使所述键合头与所述平台相对移动,且对移动到所述被连接零件上的所述半导体芯片施加荷重;且所述弹性体夹头的所述第二面及所述夹头保持器的所述面的至少一者在包含所述第二凸块电极的形成区域的正上方的位置具备凸部。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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