[发明专利]高精度相位小存储量查表计算方法

摘要

本发明提供一种高精度相位小存储量查表计算方法。技术方案包括下述过程第一步，预处理过程，计算目标点坐标值的量化位宽和迭代次数值，构造的相位映射表；第二步，坐标迭代过程，计算目标点的查表坐标；第三步，查表过程，利用相位映射表中查坐标对应的相位值；第四步，相位恢复过程，计算最终相位结果。本发明能够在与现有查找表方法相位映射表存储量相同的情况下大幅提高相位计算精度，或者在保持相同相位计算精度的情况下大幅度减少相位映射表规模，或者同时大幅提高相位计算精度和大幅度减少相位映射表规模。

主权项

一种高精度相位小存储量查表计算方法，其特征在于，包括下述过程：第一步，预处理过程：已知相位精度和相位映射表大小M，利用下式计算目标点坐标值的量化位宽k：k＝0.5·log2M  (公式一)构造一个包含M个存储单元的相位映射表，每个存储单元的比特位宽为B，地址为I×2k+Q的存储单元存储的值为即坐标为(I,Q)的目标点对应的相位值，其中：横坐标I和纵坐标Q的值是对范围[0,1]内的实数进行k比特均匀量化后的任意值，并且I≥Q，函数angle(I,Q)表示横坐标为I和纵坐标为Q的目标点相位，的量化位宽B的取值利用下式计算：利用下式计算迭代次数值n：上式中，函数ceil{x}表示取不小于x的最小整数；第二步，坐标迭代过程：设待计算的目标点坐标为(I0，Q0)，利用下述步骤计算该目标点的查表坐标：令迭代次数i＝1，Ii＝I0，Qi＝Q0；步骤①:记Ii和Qi的绝对值abs(Ii)和abs(Qi)，Ii和Qi的正负号S(i)I和S(i)Q；步骤②:若abs(Ii)＝abs(Qi)，则Ai＝abs(Ii)，Bi＝abs(Qi)；否则，令Ai＝max{abs(Ii)，abs(Qi)}，Bi＝min{abs(Ii)，abs(Qi)}，同时记Ii和Qi的正负号S(i)I和S(i)Q；步骤③:记若当前迭代次数i<n，则利用下式计算Ii+1和Qi+1：Ii+1＝2{2Ai2‑1}2‑1；Qi+1＝4AiBi{2Ai2‑1}；令Ii＝Ii+1，Qi＝Qi+1，i＝i+1，返回步骤②；若当前迭代次数i＝n，则An＝Ai，Bn＝Bi，Ii＝In,Qi＝Qn，S(i)I＝S(n)I，S(i)Q＝S(n)Q，并进入第三步查表过程；第三步，查表过程：利用在预处理过程构造的相位映射表中查坐标为(An，Bn)对应的相位值第四步，相位恢复过程：利用下述规则计算最终相位结果：若An＝abs(In)，Bn＝abs(Qn)，则若Bn＝abs(In)，An＝abs(Qn)，则其次：当S(n)I为正且S(n)Q为正，则当S(n)I为正且S(n)Q为负，则当S(n)I为负且S(n)Q为正，则当S(n)I为负且S(n)Q为负，则令按照上述规则，通过获得直至通过获得即最终相位计算结果。