[发明专利]一种功率MOSFET在审

专利信息
申请号: 201510115551.7 申请日: 2015-03-17
公开(公告)号: CN104733535A 公开(公告)日: 2015-06-24
发明(设计)人: 孙博韬;王立新;张彦飞 申请(专利权)人: 北京中科新微特科技开发股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/41;H01L29/06
代理公司: 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 代理人: 苗源
地址: 100029 北京市朝阳区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种功率MOSFET,包括:衬底;外延层,外延层覆盖衬底;源掺杂区,源掺杂区位于外延层内;阱区,阱区位于外延层内且位于源掺杂区下方;多晶源极,多晶源极被外延层包围且位于芯片表面下方;多个浮空电极,浮空电极被外延层包围且位于多晶源极下方;电容介质层,电容介质层位于浮空电极之间,浮空电极与多晶源极之间,以及位于最下方的浮空电极与外延层之间;以及侧壁介质层,侧壁介质层位于外延层与多晶源极之间,以及外延层与浮空电极之间。该功率MOSFET兼具了CC-MOSFET与SJ-MOSFET的优点。
搜索关键词: 一种 功率 mosfet
【主权项】:
一种功率MOSFET,其特征在于,所述功率MOSFET包括:衬底(101);外延层(102),所述外延层(102)覆盖所述衬底(101);源掺杂区(104),所述源掺杂区(104)位于所述外延层(102)内;阱区(103),所述阱区(103)位于所述外延层(102)内且位于所述源掺杂区(104)下方;多晶源极(112),所述多晶源极(112)被所述外延层(102)包围且位于芯片表面下方;多个浮空电极(115),所述浮空电极(115)被所述外延层(102)包围且位于所述多晶源极(112)下方;电容介质层(108),所述电容介质层(108)位于所述浮空电极(115)之间,所述浮空电极(115)与所述多晶源极(112)之间,以及位于最下方的所述浮空电极(115)与所述外延层(102)之间;以及侧壁介质层(106),所述侧壁介质层(106)位于所述外延层(102)与所述多晶源极(112)之间,以及所述外延层(102)与所述浮空电极(115)之间。
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