[发明专利]一种功率MOSFET在审
申请号: | 201510115551.7 | 申请日: | 2015-03-17 |
公开(公告)号: | CN104733535A | 公开(公告)日: | 2015-06-24 |
发明(设计)人: | 孙博韬;王立新;张彦飞 | 申请(专利权)人: | 北京中科新微特科技开发股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/41;H01L29/06 |
代理公司: | 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 | 代理人: | 苗源 |
地址: | 100029 北京市朝阳区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种功率MOSFET,包括:衬底;外延层,外延层覆盖衬底;源掺杂区,源掺杂区位于外延层内;阱区,阱区位于外延层内且位于源掺杂区下方;多晶源极,多晶源极被外延层包围且位于芯片表面下方;多个浮空电极,浮空电极被外延层包围且位于多晶源极下方;电容介质层,电容介质层位于浮空电极之间,浮空电极与多晶源极之间,以及位于最下方的浮空电极与外延层之间;以及侧壁介质层,侧壁介质层位于外延层与多晶源极之间,以及外延层与浮空电极之间。该功率MOSFET兼具了CC-MOSFET与SJ-MOSFET的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 功率 mosfet | ||
【主权项】:
一种功率MOSFET,其特征在于,所述功率MOSFET包括:衬底(101);外延层(102),所述外延层(102)覆盖所述衬底(101);源掺杂区(104),所述源掺杂区(104)位于所述外延层(102)内;阱区(103),所述阱区(103)位于所述外延层(102)内且位于所述源掺杂区(104)下方;多晶源极(112),所述多晶源极(112)被所述外延层(102)包围且位于芯片表面下方;多个浮空电极(115),所述浮空电极(115)被所述外延层(102)包围且位于所述多晶源极(112)下方;电容介质层(108),所述电容介质层(108)位于所述浮空电极(115)之间,所述浮空电极(115)与所述多晶源极(112)之间,以及位于最下方的所述浮空电极(115)与所述外延层(102)之间;以及侧壁介质层(106),所述侧壁介质层(106)位于所述外延层(102)与所述多晶源极(112)之间,以及所述外延层(102)与所述浮空电极(115)之间。
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