[发明专利]ICP发光分光分析装置

摘要

公开了一种ICP发光分光分析装置。提供一种预先对光电倍增管施加电压以能够迅速地转移至主分析的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)、检测器(40)以及控制部(60)大致构成。另外，在检测器(40)具备光电倍增管(70)，具有检测器控制部(41)和输入部(42)。由于在光电倍增管(70)存在分压电阻r1~rn，因此由于被施加于光电倍增管(70)的施加电压Ve的变化而放大率不会立即变为固定，但是检测器控制部(41)在从预先向输入部(42)输入分析条件之后起直到向感应耦合等离子体装置(10)导入包括分析对象的元素的样本之前为止的期间中控制空转电压和空转电压施加时间来使倍增率固定。

主权项

1.一种ICP发光分光分析装置，具备：感应耦合等离子体发生部，通过感应耦合等离子体对分析对象的元素进行原子化或离子化，得到原子发光线；聚光部，对所述原子发光线进行聚光；分光器，在经由入射窗取入了所述原子发光线之后，进行分光以进行检测；检测器，检测通过了所述分光器的光；检测器控制部，对被施加于所述检测器的电压和该电压的施加时间进行控制；以及输入部，受理与所述分析对象的元素相应的分析条件的操作输入，在所述ICP发光分光分析装置中，所述检测器控制部在从向所述输入部输入分析条件之后起直到把包括分析对象的元素的样本导入到所述感应耦合等离子体发生部之前为止的期间中，基于与根据在所述分析条件下施加于所述检测器的分析电压和该分析电压的分析电压施加时间求出的假定电力量相应的空转电压和该空转电压的空转电压施加时间，来控制所述检测器。