[发明专利]形成具有包括绝缘区的终止区的电子装置的工艺有效
申请号: | 201510162970.6 | 申请日: | 2015-04-08 |
公开(公告)号: | CN104979213B | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | P·莫恩斯;Z·侯赛因;J·R·吉塔特;G·M·格里瓦纳 | 申请(专利权)人: | 半导体元件工业有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28 |
代理公司: | 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 申发振<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本公开涉及形成具有包括绝缘区的终止区的电子装置的工艺。一种电子装置可包括电子组件和邻近于电子组件区的终止区。在实施方案中,所述终止区可包括延伸到半导体层中一定深度的绝缘区,其中所述深度小于所述半导体层的厚度的50%。在另一实施方案中,所述终止区可包括延伸到所述半导体层中第一深度的第一绝缘区,以及延伸到所述半导体层中第二深度的第二绝缘区,其中所述第二深度小于所述第一深度。在另一方面,一种形成电子装置的工艺可包括图案化半导体层以在终止区内界定沟槽,同时为电子组件区内的电子组件形成另一沟槽。 | ||
搜索关键词: | 形成 具有 包括 绝缘 终止 电子 装置 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种形成电子装置的工艺,其包括:/n提供基板和上覆所述基板的半导体层,其中所述半导体层具有主表面和相对表面,其中比起所述主表面,所述基板更接近所述相对表面;/n移除所述半导体层的部分以界定第一沟槽,其中所述第一沟槽位于所述电子装置的终止区内;/n形成第一绝缘层来填充所述第一沟槽以在所述终止区内形成第一绝缘区,其中所述第一绝缘区延伸到所述半导体层中一定深度,其中所述深度小于所述半导体层的厚度的50%;/n在所述终止区中形成第一垂直区,所述垂直区延伸的深度大于所述第一沟槽,其中在成品装置中,所述第一绝缘区布置在所述第一垂直区与电子组件区之间;和/n在所述第一绝缘区上形成场电极。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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