[发明专利]集成电路标准样片特性参量测量装置及方法有效
申请号: | 201510165368.8 | 申请日: | 2015-04-09 |
公开(公告)号: | CN104849682B | 公开(公告)日: | 2017-06-23 |
发明(设计)人: | 李轩冕;胡勇 | 申请(专利权)人: | 中国船舶重工集团公司第七0九研究所 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 武汉河山金堂专利事务所(普通合伙)42212 | 代理人: | 胡清堂 |
地址: | 430000 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 一种集成电路标准样片特性参量测量装置,包括管脚划分单元,用于将标准样片的管脚划分为控制管脚和测量管脚;信号划分单元,用于将管脚信号划分为测量信号与控制信号;测量回路建立单元,用于控制外接仪表产生测量信号,通过特性参量测量板将测量信号分配到标准样片的特性参量测量管脚上形成标准样片独立的测量回路;工作回路建立单元,用于通过集成电路测试系统产生控制信号,并通过特性参量测量板将控制信号分配到标准样片的控制管脚上形成标准样片的工作回路;测量结果获取单元,用于通过使得标准样片在控制信号和测量信号的共同作用下工作,控制外接仪表对标准样片反馈的测量信号进行测定得到特性参量的测量结果。 | ||
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【主权项】:
一种集成电路标准样片特性参量测量装置,其特征在于,其包括如下单元:管脚划分单元,用于将标准样片的管脚划分为特性参量测量管脚与控制管脚,将特性参量所在的管脚均作为特性参量测量管脚,将余下管脚均作为控制管脚;信号划分单元,用于以管脚划分单元中对管脚的划分为依据,对应的将管脚信号划分为测量信号与控制信号;其中,测量信号用以形成标准样片的测量回路;控制信号用以形成标准样片的工作回路;测量回路建立单元,用于建立外接仪表、标准样片、集成电路测试系统分别与特性参量测量板的电连接,控制外接仪表产生测量信号,通过特性参量测量板将测量信号分配到标准样片的特性参量测量管脚上形成标准样片独立的测量回路;工作回路建立单元,用于通过集成电路测试系统产生控制信号,并通过特性参量测量板将控制信号分配到标准样片的控制管脚上形成标准样片的工作回路;测量结果获取单元,用于通过使得标准样片在控制信号和测量信号的共同作用下工作,控制外接仪表对标准样片反馈的测量信号进行测定得到特性参量的测量结果。
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