[发明专利]半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序在审
| 申请号： | 201510182994.8 | 申请日： | 2015-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN105045443A | 公开（公告）日： | 2015-11-11 |
| 发明（设计）人： | 漆贵弘 | 申请（专利权）人： | 拉碧斯半导体株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 秦琳;陈岚 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序。提供一种即使在由于噪声导致检测信号发生变化的情况下也能够精度良好地检测对触摸面板的接触状态的半导体装置、显示系统、检测方法以及检测程序。本实施方式的显示系统（10）的检测部（20）在输出信号距基准信号的变化量大并且输出信号的振幅的波动大的情况下，检测出触摸面板（12）的接触状态为接触。此外，本实施方式的显示系统（10）的检测部（20）在输出信号距基准信号的变化量小并且输出信号的振幅的波动小的情况下，检测出触摸面板（12）的接触状态为非接触。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 显示 系统 检测 方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，其中，具备检测部，所述检测部取得由将从静电电容型的触摸面板输出的检测信号变换为数字信号的模拟数字变换部输出的具有振幅的输出信号，比较所述输出信号和基准信号，在所述输出信号距所述基准信号的变化量超过第一阈值的情况下，基于所述输出信号的时间变化，检测向所述触摸面板的接触状态是否为接触。
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