[发明专利]一种光学膜的缺陷判别方法有效
| 申请号： | 201510184141.8 | 申请日： | 2015-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN105044130B | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 李银珪;朴宰贤;许宰宁 | 申请（专利权）人： | 东友精细化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 北京市中伦律师事务所 11410 | 代理人： | 石宝忠 |
| 地址： | 韩国全*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及光学膜的缺陷判别方法。本发明涉及光学膜的缺陷判别方法，根据具备：(S1)对在两面层叠有保护膜的光学膜进行检查并确认是否包括异物的阶段；(S2)剥离包括所述异物的光学膜两面的保护膜，并将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的阶段；(S3)得到所述合格品性异物和缺陷的选自下式1的密度、下式2的厚度、以及面积之中的一个以上的值与强度的关系相关的信息，并获取将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的基准的阶段；以及(S4)将根据所述得到的信息，光学膜的异物之中判别为合格品性异物的异物从缺陷中除外的阶段，从而根据正确地判定以往被判别为缺陷但实际上并不是缺陷等的物质，能够显著提升光学膜的制造收率，大幅减少制造成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 缺陷 判别 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，具备：S1对在两面层叠有保护膜的光学膜进行检查并确认是否包括异物的阶段；S2：剥离包括所述异物的光学膜两面的保护膜，并将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的阶段；S3：得到所述合格品性异物和缺陷的选自下式1的密度、下式2的厚度、以及面积之中的一个以上的值与强度的关系相关的信息，并获取将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的基准的阶段；S4：根据所述得到的信息，将光学膜的异物之中判别为合格品性异物的异物从缺陷中除外的阶段，【式1】异物的密度＝异物的面积/以异物的长轴为直径的圆的面积【式2】异物的厚度＝异物的面积/异物的长轴的长度，所述阶段S3具备阶段S3‑1，其中获取根据各异物的强度与密度的关系对合格品性异物和缺陷进行分类的一次分类基准。
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