[发明专利]过热检测电路及半导体装置有效
| 申请号： | 201510198513.2 | 申请日： | 2015-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN105043571B | 公开（公告）日： | 2019-04-30 |
| 发明（设计）人： | 杉浦正一;富冈勉;泽井英幸;五十岚敦史;大塚直央;冈野大辅 | 申请（专利权）人： | 艾普凌科有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/01 | 分类号： | G01K7/01 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 何欣亭;姜甜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明题为过热检测电路及半导体装置。本发明提供高温下也正确地检测半导体装置的温度而不会输出错误的检测结果的过热检测电路。该结构包括：作为感温元件的PN结元件；向PN结元件供给偏置电流的恒流电路；比较PN结元件产生的电压和基准电压的比较器；在高温下使泄漏电流在基准电压电路流动的第二PN结元件；以及在高温下使恒流电路的泄漏电流旁路的第三PN结元件。 | ||
| 搜索关键词： | 过热 检测 电路 半导体 装置 | ||
【主权项】：
1.一种过热检测电路，其中包括：作为感温元件的PN结元件；向所述PN结元件供给偏置电流的恒流电路；输出基准电压的基准电压电路；以及比较所述PN结元件产生的电压和所述基准电压的比较器，所述过热检测电路的特征在于，包括：在高温下使泄漏电流在所述基准电压电路流动的第二PN结元件；以及在高温下使所述恒流电路的泄漏电流旁路的第三PN结元件。
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