[发明专利]用于芯片嵌入的晶片基后道工序工艺在审
申请号: | 201510202154.3 | 申请日: | 2015-02-04 |
公开(公告)号: | CN104966733A | 公开(公告)日: | 2015-10-07 |
发明(设计)人: | P·加尼策尔;M·雅各布;A·策希曼 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336;H01L29/45 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 蒋骏;胡莉莉 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及用于芯片嵌入的晶片基后道工序工艺。在各实施例中提供了一种半导体器件,包括包含漂移区和邻近于该漂移区布置的栅极电极的半导体本体;以及在半导体本体的漂移区之上提供且具有第一金属层、在该第一金属层之上的粘附层和在该粘附层之上的第二金属层的接触结构。 | ||
搜索关键词: | 用于 芯片 嵌入 晶片 基后道 工序 工艺 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,包括:半导体本体,包括漂移区和邻近于该漂移区布置的栅极电极;以及接触结构,在半导体本体的漂移区之上提供且具有第一金属层、在该第一金属层之上的粘附层和在该粘附层之上的第二金属层。
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