[发明专利]一种用于锡膏检测精度检验的棱台参数测量方法和系统

摘要

本发明公开了一种用于锡膏检测精度检验的棱台参数测量方法和系统。该方法包括放置待测的棱台；对所述棱台进行平行于下表面的横切，得到处于不同高度的n个横切面，获取所述n个横切面的参数；建立平面直角坐标系；将所述棱台的n个横切面的参数带入预知的数学模型，用最小二乘法确定所述数学模型，并根据所述确定的数学模型得到所述棱台的参数。本发明用待测的棱台的实测参数确定预知的数学模型，并在极限状态下得到该棱台的参数，提高了棱台参数测量的准确度。

主权项

一种用于锡膏检测精度检验的棱台参数测量方法，其特征在于，包括：放置待测的棱台；建立平面直角坐标系；对所述棱台进行平行于下表面的横切，得到处于不同高度的n个横切面，所述n个横切面为1，2，…，i，…，n个横切面，1≤i≤n，获取所述n个横切面的参数，包括横切面的高度hi，中心点坐标(xi,yi)和面积Si，所述横切面的高度hi为所述横切面与所述下表面的距离；将所述棱台的n个横切面的参数带入预知的数学模型，得到4*n组方程，用最小二乘法确定所述数学模型，所述数学模型为：其中，Vi为所述棱台的横切面以上棱台的体积，a1，b1，a2，b2，a3，b3，c3，a4，b4，c4，d4为待定系数；根据所述确定的数学模型，令Vi＝0，得到所述棱台的高度；令hi＝0，求得所述棱台的体积。