[发明专利]基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法有效

专利信息
申请号: 201510243591.X 申请日: 2015-05-13
公开(公告)号: CN104834601B 公开(公告)日: 2017-12-05
发明(设计)人: 韩继梁;李丽萍;惠晓辉;陈萌萌;赵彩云 申请(专利权)人: 上海斐讯数据通信技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 杭州千克知识产权代理有限公司33246 代理人: 周希良
地址: 201616 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,包括以下步骤设置智能终端处于激活状态;获取智能终端当前的RAM值和CPU值;将获取的RAM值和CPU值进行排序;依次打开智能终端上的所有APP后再关闭,对RAM值和CPU值进行监测;当出现异常状况时,开启LOG抓取功能,自动记录测试状态。本发明的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法适用于任何Android手机或Android设备;通过RAM和CPU曲线来观察智能终端运行情况并会自动记录运行曲线的过程,从而有效的检测出智能终端中的内存运行的问题。
搜索关键词: 基于 android 系统 智能 终端 内存 泄露 自动化 测试 方法
【主权项】:
一种基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤S1、设置智能终端处于激活状态;步骤S2、获取智能终端当前的RAM值和CPU值;步骤S3、将获取的RAM值和CPU值进行排序;步骤S4、依次打开智能终端上的所有APP后再关闭,对RAM值和CPU值进行监测;采用全自动运行方式反复循环调用智能终端中每个APP,然后查看是否执行RAM释放的操作;其中,通过Android系统中的命令Intent.ACTION_MAIN和Intent.CATEGORY_LAUNCHER分别用于获取智能终端APP并打开;自动运行APP时,能够设定APP重复运行次数及单次运行时间;步骤S5、当出现异常状况时,开启LOG抓取功能,自动记录测试状态。
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