[发明专利]用于低接地体校正的方法和系统有效
| 申请号： | 201510255469.4 | 申请日： | 2015-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN105117079B | 公开（公告）日： | 2018-05-29 |
| 发明（设计）人： | K·古达兹 | 申请（专利权）人： | 辛纳普蒂克斯公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王星;张懿 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于输入装置的处理系统，包括耦合到第一传感器电极和第二传感器电极的传感器模块。该传感器模块包括传感器电路并配置成获取第一传感器电极和第二传感器电极之间的互电容性度量，并且获取第一传感器电极和第二传感器电极的绝对电容性度量。该处理系统进一步包括确定模块，其配置成确定来自该互电容性度量的投影和来自该绝对电容性度量的曲线，以及基于良好接地值、该投影和该曲线确定低接地体校正因子。 | ||
| 搜索关键词： | 电极 度量 第二传感器 第一传感器 接地 传感器模块 处理系统 绝对电容 互电容 投影 传感器电路 曲线确定 输入装置 耦合到 配置 | ||
【主权项】：
1.一种用于输入装置的处理系统，所述处理系统包括：传感器模块，其耦合到第一批多个传感器电极和第二批多个传感器电极，所述传感器模块包括传感器电路并配置成：获取所述第一批多个传感器电极和所述第二批多个传感器电极之间的第一批多个互电容性度量，以及获取所述第一批多个传感器电极和所述第二批多个传感器电极的第一批多个绝对电容性度量；以及确定模块，其配置成：确定来自所述第一批多个互电容性度量的第一投影和来自所述第一批多个绝对电容性度量的第一曲线，其中确定所述第一投影包括：对于在第一轴上的所述第一批多个传感器电极的至少一个子集中的每个传感器电极，对沿所述传感器电极的长度的所述第一批多个互电容性度量的子集求和，以获得所述传感器电极的求和值，以及其中所述第一投影包括所述第一批多个传感器电极的至少所述子集中的每个的所述求和值；以及基于良好接地值、所述第一投影和所述第一曲线确定低接地体校正因子。
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