[发明专利]一种氧化物半导体TFT阵列基板及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510300713.4 申请日: 2015-06-03
公开(公告)号: CN104992947B 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 尹炳坤;韩俊号 申请(专利权)人: 合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 代理人: 黄志华
地址: 230011 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及显示器设计领域,公开了一种氧化物半导体TFT阵列基板及其制备方法。该方法包括在不破坏真空条件下连续沉积氧化物半导体有源层及透明导电层,和通过一次构图工艺形成有源层图形和透明导电层的图形。该方法避免了在制造过程中氧化物半导体长时间暴露在环境中导致的器件信赖度下降,且透明导电层与氧化物半导体有源层直接接触,降低了接触电阻,从而提高了氧化物半导体有源层的导通电流,进而降低了其显示装置的驱动电压和功耗,并提高了产品的使用稳定性。
搜索关键词: 一种 氧化物 半导体 tft 阵列 及其 制备 方法
【主权项】:
一种氧化物半导体TFT阵列基板的制备方法,其特征在于,包括:在不破坏真空条件下连续沉积氧化物半导体有源层及透明导电层;在所述透明导电层上形成源漏金属层;通过一次构图工艺形成有源层图形和透明导电层的图形;其中,所述通过一次构图工艺形成有源层图形和透明导电层的图形具体包括:通过一次构图工艺形成源漏电极的图形、透明导电层的图形以及有源层的图形;所述通过一次构图工艺形成源漏电极的图形、透明导电层的图形以及有源层的图形,具体包括:在所述源漏金属层上形成光刻胶层;采用半色调掩膜板对所述光刻胶层进行曝光并显影;通过刻蚀工艺保留所述源漏金属层用于形成源漏电极的区域和所述源漏金属层处于像素单元有效显示区域内的部位;对曝光显影后剩余的所述光刻胶层进行灰化工艺,以露出所述源漏金属层中用于形成沟道的区域;采用刻蚀工艺对所述源漏金属层露出的部位进行刻蚀,形成沟道;并沿所述透明导电层的厚度方向对所述沟道区域内的所述透明导电层进行部分刻蚀;对剩余的所述光刻胶层进行二次灰化,将所述源漏金属层中处于用于与数据线连接的漏电极的部位以外的区域露出;采用刻蚀工艺去除所述源漏金属层中用于与数据线连接的漏电极的部位以外的区域;采用刻蚀工艺将所述沟道内剩余的所述透明导电层刻蚀去除。
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