[发明专利]集成电路、集成电路测试装置以及方法有效
| 申请号： | 201510382967.5 | 申请日： | 2015-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN105067988B | 公开（公告）日： | 2018-03-30 |
| 发明（设计）人： | 蔡汉尧 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人： | 黄嵩泉 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种集成电路、集成电路测试装置以及方法。该集成电路，包括第一电源单元、第二电源单元以及选择开关。第一电源单元输出第一输出电压且耦接至第一负载引脚，第一负载引脚耦接至第一负载。第二电源单元，输出第二输出电压且耦接至第二负载引脚，第二负载引脚耦接至第二负载。选择开关根据一选择信号，选择第一输出电压以及第二输出电压输出至电压引脚。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路，包括：第一电源单元，输出第一输出电压且耦接至第一负载引脚，其中上述第一负载引脚耦接至所述集成电路外部的第一负载；第二电源单元，输出第二输出电压且耦接至第二负载引脚，其中上述第二负载引脚耦接至所述集成电路外部的第二负载；以及选择开关，根据选择信号，选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至电压引脚。
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