[发明专利]一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法有效
| 申请号： | 201510389183.5 | 申请日： | 2015-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN104964664B | 公开（公告）日： | 2017-06-06 |
| 发明（设计）人： | 葛广路;王瑞敏;陈岚 | 申请（专利权）人： | 国家纳米科学中心 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08;G01B21/10 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人： | 巩克栋,侯桂丽 |
| 地址： | 100190 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法，所述方法包括如下步骤(1)在梯度溶液中，采用CPS离心粒度仪测定未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径dc；(2)在相同的梯度溶液中，采用CPS离心粒度仪测定包覆了配体的纳米颗粒的粒径d；(3)根据式(I)计算配体层的厚度d1.5=dc3+6[dc2Δl+2dcΔl2+43Δl3]ρsρp(dc+2Δl)1.5---(I)]]>其中，d是包覆了配体的纳米颗粒的粒径；dc是未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径；Δl是配体层的厚度；ρs是纳米裸颗粒的材质密度；ρp为梯度溶液的平均密度。本发明首次测定了包覆有配体的纳米颗粒表面配体层的厚度，为研究配体厚度对纳米颗粒在生物系统中的效应的影响做了准备；测试方法简单，重复性好，重现性好，偏差小。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 包覆有配体 纳米 颗粒 表面 配体层 厚度 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：(1)在梯度溶液中，采用CPS离心粒度仪测定未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径dc；(2)在相同的梯度溶液中，采用CPS离心粒度仪测定包覆了配体的纳米颗粒的粒径d；(3)根据式(I)计算配体层的厚度：d1.5=dc3+6[dc2Δl+2dcΔl2+43Δl3]ρsρp(dc+2Δl)1.5---(I)]]>其中，d是包覆了配体的纳米颗粒的粒径；dc是未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径；Δl是配体层的厚度；ρs是纳米裸颗粒的材质密度；ρp为梯度溶液的平均密度。
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