[发明专利]在触摸屏按压测试中检测不良的方法和装置有效
| 申请号： | 201510390573.4 | 申请日： | 2015-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN105182101B | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 杨刚;宋勇;龙君;安喜君;张宏坤;刘滋旺 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 柴亮;张天舒 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及在触摸屏按压测试中检测不良的方法和装置。所述在触摸屏按压测试中检测不良的方法包括：S1，在按压测试时，采集触摸屏的每个按压处被按压后，该按压处所在检测区域的图像；S2，在所采集的图像中识别异常点的数量；S3，将所述异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点数量进行比较，并在所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良。上述检测不良的方法可以准确且及时地检测触摸屏在按压测试过程中是否存在不良。 | ||
| 搜索关键词： | 触摸屏 按压 测试 检测 不良 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种在触摸屏按压测试中检测不良的方法，其特征在于，包括：S1，在按压测试时，采集触摸屏的每个按压处被按压后，该按压处所在检测区域的图像；S2，在所采集的图像中识别异常点的数量；S3，将所述异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点数量进行比较，并在所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良；在判定所述触摸屏不良后，记录所述按压处被按压的次数。
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