[发明专利]混频器变频损耗的测试方法和系统在审
| 申请号： | 201510393775.4 | 申请日： | 2015-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN105067894A | 公开（公告）日： | 2015-11-18 |
| 发明（设计）人： | 罗宏伟;黄志芳 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 李巍 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种混频器变频损耗的测试方法和测试系统。混频器变频损耗的测试方法包括设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数；与测试仪器进行通讯，驱动测试仪器根据应用参数向混频器输入对应的本振频率信号和射频信号；获取测试仪器返回的测试数据，其中，测试数据为混频器根据本振频率信号和射频信号混频处理后输出的中频信号功率；计算应用参数对应的射频信号功率和测试数据的比值，得到变频损耗值。因此，实现了混频器变频损耗的自动测试，降低人工劳动强度，提高了效率。 | ||
| 搜索关键词： | 混频器 变频 损耗 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种混频器变频损耗的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数；与测试仪器进行通讯，驱动所述测试仪器根据所述应用参数向所述混频器输入对应的本振频率信号和射频信号；获取所述测试仪器返回的测试数据，其中，所述测试数据为所述混频器根据所述本振频率信号和射频信号混频处理后输出的中频信号功率；计算所述应用参数对应的射频信号功率和测试数据的比值，得到变频损耗值。
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