[发明专利]一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置及方法在审
| 申请号： | 201510404188.0 | 申请日： | 2015-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN105527508A | 公开（公告）日： | 2016-04-27 |
| 发明（设计）人： | 杨利华 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平区北七家未*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置，装置包括：测试软件，与读卡器相连，用于读取智能卡与读卡器之间的通讯指令并显示；干扰噪声发生器，用于产生干扰信号，发送给智能卡；智能卡，接收干扰信号，出现CPU跑飞，在数据区写数据，确定智能卡跑飞次数；读卡器，用于同智能卡通讯。本发明还提供了一种评估智能卡CPU抗干扰能力的测试方法，采用本发明所述的装置和方法，可以提高统计智能卡抗干扰能力的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 评估 智能卡 芯片 cpu 抗干扰 能力 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置，其特征在于，该装置包括：测试软件，与读卡器相连，用于读取智能卡与读卡器之间的通讯指令并显示；干扰噪声发生器，用于产生干扰信号，发送给智能卡；智能卡，接收干扰信号，出现CPU跑飞，在数据区写数据，确定智能卡跑飞次数；读卡器，用于同智能卡通讯。
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