[发明专利]TFT基板结构的制作方法有效
申请号: | 201510411137.0 | 申请日: | 2015-07-13 |
公开(公告)号: | CN104952792B | 公开(公告)日: | 2017-12-29 |
发明(设计)人: | 吕晓文 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L21/768;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板结构的制作方法,在依次形成第一钝化层、平坦层、及第一透明导电膜之后,先对第一透明导电膜进行图案化处理,形成第一像素电极,之后再采用黄光制程在平坦层上对应漏极上方曝光出第一过孔,然后以平坦层为自对准光罩,采用干法蚀刻制程在第一钝化层上对应第一过孔蚀刻出第二过孔,从而有效防止第一透明导电膜在第一、第二过孔处的残留,提高了生产良率,同时减少一道光罩,避免了由于对位不准造成的开口率降低,提高了生产效率,降低了生产成本,提高了产品价格的竞争力。 | ||
搜索关键词: | tft 板结 制作方法 | ||
【主权项】:
一种TFT基板结构的制作方法,其特征在于,包括如下步骤;步骤1、提供基板(1),在所述基板(1)上沉积缓冲层(2);在所述缓冲层(2)上沉积第一金属层,并对所述第一金属层进行图案化处理,形成栅极(3);步骤2、在所述缓冲层(2)、及栅极(3)上沉积栅极绝缘层(4);在所述栅极绝缘层(4)上沉积氧化物半导体层,并对所述氧化物半导体层进行图案化处理,形成岛状半导体层(5);步骤3、在所述栅极绝缘层(4)、及岛状半导体层(5)上沉积第二金属层,并对所述第二金属层进行图案化处理,得到源极(6)、及漏极(7);步骤4、在所述栅极绝缘层(4)、岛状半导体层(5)、源极(6)、及漏极(7)上沉积第一钝化层(8);步骤5、在所述第一钝化层(8)上形成平坦层(9);步骤6、在所述平坦层(9)上沉积第一透明导电膜,并对所述第一透明导电膜进行图案化处理,形成第一像素电极(10);步骤7、在所述第一钝化层(8)、及平坦层(9)上对应所述漏极(7)的上方依次形成第一过孔(91)、及第二过孔(92),所述第一过孔(91)、及第二过孔(92)暴露出部分漏极(7);步骤8、在所述第一像素电极(10)及平坦层(9)上沉积第二钝化层(11),并对所述第二钝化层(11)进行图案化处理,在所述第二钝化层(11)上形成一对应于所述第一过孔(91)与第二过孔(92)的第三过孔(93);步骤9、在所述第二钝化层(11)上沉积第二透明导电膜,并对所述第二透明导电膜进行图案化处理,形成第二像素电极(12),所述第二像素电极(12)经由第一、第二、第三过孔(91、92、93)与漏极(7)相连。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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