[发明专利]用于检测β球蛋白基因的变异的微阵列及其检测方法有效
申请号: | 201510428094.7 | 申请日: | 2013-03-28 |
公开(公告)号: | CN105069324B | 公开(公告)日: | 2018-08-28 |
发明(设计)人: | 外川直之 | 申请(专利权)人: | 三菱化学株式会社 |
主分类号: | G06F19/22 | 分类号: | G06F19/22 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 金鲜英;何杨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及用于检测β球蛋白基因的变异的微阵列及其检测方法。本发明还涉及一种多态性检测用微阵列探针对的评价方法,含有以下的工序:(1)在含有表示第1多态性检测用探针杂交而获得的信号强度的Y轴和表示第2多态性检测用探针杂交而获得的信号强度的X轴的荧光坐标系中标绘荧光坐标的工序,所述荧光坐标使第1多态性用对照核酸与多态性检测用探针对杂交而获得;(2)将反比于通过所述Y轴和X轴的交点O与所述工序(1)中标绘的荧光坐标的直线的倾角的值设为校正值C的工序;(3)对多个多态性检测用探针对进行工序(1)及(2),在各探针间比较校正值C,将校正值C为最小的探针对确定为适合于第1多态性检测的探针的工序。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 球蛋白 基因 变异 阵列 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种多态性检测用微阵列探针对的评价方法,含有以下的工序:(1)在含有表示第1多态性检测用探针杂交而获得的信号强度的Y轴和表示第2多态性检测用探针杂交而获得的信号强度的X轴的荧光坐标系中标绘荧光坐标的工序,所述荧光坐标使第1多态性用对照核酸与多态性检测用探针对杂交而获得;(2)将反比于通过所述Y轴和X轴的交点O与所述工序(1)中标绘的荧光坐标的直线的倾角的值设为校正值C的工序;(3)对多个多态性检测用探针对进行工序(1)及(2),在各探针对间比较校正值C,将校正值C为最小的探针对确定为适合于第1多态性检测的探针对的工序。
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