[发明专利]残像测试、消除方法和残像测试、消除装置有效
| 申请号： | 201510450701.X | 申请日： | 2015-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN104950494B | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | 张浩;孙伟;时凌云;孙海威 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G09G3/36 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种残像测试、消除方法和残像测试、消除装置，涉及显示领域，能够解决现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。本发明的残像测试方法，包括：显示面板播放残像测试画面；向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 消除 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种残像测试方法，其特征在于，包括：显示面板播放残像测试画面；向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；通过数据线获取所述像素电极上的电位信息；所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，还包括：断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平；然后，将所述数据线悬空。
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