[发明专利]全自动IC电信号测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 201510453805.6 | 申请日： | 2015-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN104965169A | 公开（公告）日： | 2015-10-07 |
| 发明（设计）人： | 居水荣 | 申请（专利权）人： | 江苏杰进微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 213022 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种全自动IC电信号测试装置，是对IC器件进行测试的全自动IC电信号测试装置，包括：产生用于规定应供给至IC器件的测试信号的测试图像的图像生成模块；产生表示将测试信号供给至IC器件时序的时序信号的时序信号生成模块；对测试图像进行滤波，输出表示与测试图像相对应控制信号的滤波模块；根据控制信号而使时序信号延迟，借此将跳跃施加至时序信号的波动处理模块；以及波形图，以施加了跳跃的时序信号为基准，生成已形成测试图像的测试信号。 | ||
| 搜索关键词： | 全自动 ic 电信号 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种全自动IC电信号测试装置，是对IC器件进行测试的全自动IC电信号测试装置，其特征在于所述全自动IC电信号测试装置包括：图像生成模块，产生测试图像，所述测试图像规定供给至上述IC器件的测试信号；时序信号生成模块，产生表示将测试信号供给至上述IC器件的时序的时序信号；滤波模块，对所述测试图像进行滤波，输出表示与所述测试图像相对应控制信号；波动处理模块，根据所述控制信号而使所述时序信号延迟，借此将跳跃施加至所述时序信号；以及波形图，以施加了跳跃的所述时序信号为基准，生成己形成所述测试图像的测试信号。
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