[发明专利]SRAM存储单元、SRAM电路及其读写方法有效
申请号: | 201510458420.9 | 申请日: | 2015-07-30 |
公开(公告)号: | CN105070315B | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 王旭;梁馨文;张译文 | 申请(专利权)人: | 孤山电子科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G11C11/413 | 分类号: | G11C11/413 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅 |
地址: | 201108 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种SRAM存储单元、SRAM电路及其读写方法,所述SRAM存储单元由参与写操作的第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七MOS晶体管以及参与读操作第八、第九、第十MOS晶体管组成,第三MOS晶体管的栅极连接第一控制信号,第四MOS晶体管的栅极连接第二控制信号,第九MOS晶体管的栅极连接列选择信号,第十MOS晶体管的栅极连接字线,本发明可避免现有的数据感知型SRAM结构在半选状态中的功耗损失,并减少寄生电容对SRAM存储单元稳定性的影响,同时提高读写性能。 | ||
搜索关键词: | 栅极连接 读写 第二控制信号 第一控制信号 列选择信号 读写性能 寄生电容 数据感知 读操作 写操作 功耗 字线 | ||
【主权项】:
1.一种SRAM存储单元,其特征在于,包括:参与写操作的第一MOS晶体管、第二MOS晶体管、第三MOS晶体管、第四MOS晶体管、第五MOS晶体管、第六MOS晶体管、第七MOS晶体管以及参与读操作第八MOS晶体管、第九MOS晶体管、第十MOS晶体管;所述第一MOS晶体管的栅极连接第二节点,源极和漏极分别接地和连接第一节点;所述第二MOS晶体管的栅极连接第一节点,源极和漏极分别接地和连接第二节点;所述第三MOS晶体管的栅极连接第一控制信号,源极和漏极分别连接第三节点和第一节点;所述第四MOS晶体管的栅极连接第二控制信号,源极和漏极分别连接第三节点和第二节点;所述第五MOS晶体管的栅极连接第二节点,源极和漏极分别连接电源电压和第一节点;所述第六MOS晶体管的栅极连接第一节点,源极和漏极分别连接电源电压和第二节点;所述第七MOS晶体管的栅极连接字线,源极和漏极分别接地和连接第三节点;所述第八MOS晶体管的栅极连接第二节点,源极和漏极分别接地和连接第四节点;所述第九MOS晶体管的栅极连接列选择信号,源极和漏极分别连接第四节点和第五节点;所述第十MOS晶体管的栅极连接字线,源极和漏极分别连接第五节点和子位线。
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