[发明专利]一种测量经纬仪高度的方法

摘要

本发明公开了一种测量经纬仪高度的方法。该方法运用光的反射原理。将经纬仪在测量基点上对中整平后，在距测量基点一定距离处树立一把垂直塔尺，塔尺上放置一块反光体。通过反光体沿塔尺上下移动可以从经纬仪目镜中观测到基点在反光体中成的像，由光入射角与反射角相等关系和平行线间夹角关系可以求出经纬仪水平轴到基点的距离，即仪器高度。本发明原理简单明确、材料简单廉价、操作简便、精度高、易掌握、便于工程运用。

主权项

一种测量经纬仪高度的方法，其特征在于，具体步骤为：将经纬仪置于测量时的基点D上方并对中整平，A点为经纬仪水平轴线与竖直轴线的交点，将带垂直水准气泡的塔尺立于距经纬仪0.95～1.05米的位置并调整至垂直，保持塔尺与经纬仪的竖直轴线平行，再将经纬仪调至水平，并标出经纬仪物镜十字丝横丝在塔尺上的投影线与塔尺的交点B，然后在塔尺上B点放一块直径10厘米的反光体，反光体从B点缓慢向下滑动，同时经纬仪视线随反光体缓慢向下移动，当经纬仪目镜中能够观测到基点D在反光体中成的像时，反光体停止移动，调节经纬仪使物镜十字丝交点对准反光体中基点D的像，固定经纬仪，拿走反光体，将此时物镜十字丝横丝在塔尺上的投影线与塔尺的交点C标出，用钢直尺量出B和C两点间的距离；运用光的反射原理，由光入射角与反射角相等关系和平行线间夹角关系能够求出经纬仪水平轴线到基点D的距离，即得出经纬仪高度， =2。