[发明专利]贴片电阻中不良颗粒的检测与处理设备及方法有效
申请号: | 201510474489.0 | 申请日: | 2015-08-06 |
公开(公告)号: | CN105070672B | 公开(公告)日: | 2018-01-19 |
发明(设计)人: | 程如良;徐心湖 | 申请(专利权)人: | 杭州灏元自动化设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人: | 王术兰 |
地址: | 310015 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供了一种贴片电阻中不良颗粒的检测与处理设备及方法,包括图像采集装置用于采集传送装置传送的整片贴片电阻的影像信息;处理装置用于根据采集的影像信息检测整片贴片电阻的质量,并对检测到的残坏的电阻颗粒进行标记处理;镭射装置用于根据控制信号,对整片贴片电阻中进行标记处理的残坏颗粒进行剔除处理;其能够自动检测和识别贴片电阻,并对贴片电阻中的不良贴片电阻颗粒进行标记,避免了工作人员手动去检测、识别并标记贴片电阻,不仅减少了工作人员的劳动强度,提高了工业贴片电阻的生产效率,还减小了生产材料的浪费,节约了投入成本并且本发明中的自动检测和处理,并且使得检测结果客观且进一步提高了检测结果的准确性。 | ||
搜索关键词: | 电阻 不良 颗粒 检测 处理 设备 方法 | ||
【主权项】:
一种贴片电阻中不良颗粒的检测与处理设备,包括供料装置,用于预先存储有待检测整片贴片电阻;传送装置,用于在所述设备上电时,实时传送待检测的整片贴片电阻;其特征在于,所述设备还包括:图像采集装置、处理装置和镭射装置;所述图像采集装置,用于采集所述传送装置传送的所述整片贴片电阻的影像信息;所述处理装置,用于根据采集的所述影像信息检测所述整片贴片电阻的质量,并对检测到的残坏的电阻颗粒进行标记处理;以及根据检测到的残坏的电阻颗粒生成控制信号;所述镭射装置,用于根据所述控制信号,对所述整片贴片电阻中进行标记处理的残坏颗粒进行剔除处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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