[发明专利]一步放大法荧光检测汞离子的方法有效

专利信息
申请号: 201510486405.5 申请日: 2015-08-10
公开(公告)号: CN105044067B 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 王玉;黄加栋;许颖;刘素;王虹智;郭玉娜;崔洁;邱婷婷;崔雪君;裴倩倩;冷雪琪;韩聪 申请(专利权)人: 济南大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 济南泉城专利商标事务所37218 代理人: 张世静
地址: 250022 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供了一种一步放大法荧光检测汞离子的方法,本发明基于汞离子可以稳定DNA中T‑T错配的原理实现汞离子的检测,利用了核酸适配体的特异型识别,利用汞离子的适体作为识别物质实现了对目标物汞离子的高特异性检测;使用荧光检测方法的提高了反应速度,降低了操作的复杂程度,实现了目标物的快速,简单,灵敏的检测。
搜索关键词: 一步 大法 荧光 检测 离子 方法
【主权项】:
一步放大法荧光检测汞离子的方法,其特征在于,是通过以下步骤得到的:(1)在200μl离心管中依次放入8μl H2O;0.5μM,2μl Probe1链;0.5μM,2μl Probe2链;10μM,5μl HAP链;Nt.BbvCI的bμffer 2μl;Nt.BbvCI酶100U/ml 1μl,制成20μl均相体系;在振荡器上振荡30s,混合均匀;(2)然后将混匀的混合液放入37℃的恒温箱中孵育2h;(3)向混合液中加入180μlH2O溶液,混合均匀,形成200μl体系,将其全部置入荧光杯中,放入荧光仪;(4)设置激发波长为494nm,发射波长范围为500nm‑630nm,入射狭缝5nm,出射狭缝宽度为3nm;开始测试其荧光强度;所述的HAP的3’端修饰FAM发光基团,5’端修饰Dabcyl猝灭基团;所述的Probe1的核苷酸序列如SEQ ID NO:1所示;所述的Probe2的核苷酸序列如SEQ ID NO:2所示;所述的HAP的核苷酸序列如SEQ ID NO:3所示。
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