[发明专利]光刻生产控制方法有效

专利信息
申请号: 201510493961.5 申请日: 2015-08-12
公开(公告)号: CN105093851B 公开(公告)日: 2017-06-16
发明(设计)人: 罗华明;甘志锋;毛智彪;杨正凯 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F7/16
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 智云
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种光刻生产控制方法,包括步骤1创建涂胶显影作业,涂胶显影作业包括涂胶、曝光和显影;步骤2执行涂胶作业;步骤3检测判断涂胶作业是否遇到光刻胶不足,若遇到光刻胶不足,则报警提示更换光刻胶,进入步骤4,若光刻胶充足,则直接进入步骤5;步骤4换胶前缓存当前批次晶圆的涂胶显影作业进度,并寻找涂胶显影作业条件与当前批次不一致的晶圆,进行涂胶显影作业;换胶后载入换胶前缓存的涂胶显影作业进度,返回步骤3;步骤5将曝光条件与涂胶显影作业对应;步骤6执行曝光作业和后续显影作业。本发明可以使光刻机能够连续不中断地工作,从而提高光刻机整体的产能。
搜索关键词: 光刻 生产 控制 方法
【主权项】:
一种光刻生产控制方法,其特征在于,包括:步骤1:创建涂胶显影作业,涂胶显影作业包括:涂胶、曝光和显影;步骤2:执行涂胶作业;步骤3:检测判断涂胶作业是否遇到光刻胶不足,若遇到光刻胶不足,则报警提示更换光刻胶,进入步骤4,若光刻胶充足,则直接进入步骤5;步骤4:换胶前:缓存当前批次晶圆的涂胶显影作业进度,并寻找涂胶显影作业条件与当前批次不一致的晶圆,进行涂胶显影作业;换胶前的步骤包括:步骤411:停止当前批次晶圆的载入,缓存该批次晶圆的涂胶显影作业进度;步骤412:将当前批次中已完成涂胶作业的晶圆进行曝光,缓存当前批次未完成的曝光作业进度;步骤413:寻找涂胶显影作业条件与当前批次不一致的晶圆,并对寻找到的晶圆执行涂胶显影作业;换胶后:载入换胶前缓存的涂胶显影作业进度,返回步骤3;步骤5:将曝光条件与涂胶显影作业对应;步骤6:执行曝光作业和后续显影作业。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司,未经上海华力微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510493961.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top