[发明专利]一种电子类产品加速贮存的试验方法

摘要

本发明涉及一种电子类产品加速贮存的方法，即将某种产品存放于比其使用环境更恶劣的环境中，使其贮存时间相对于自然贮存大幅减少，在相对短的贮存时间内达到其要求的贮存寿命期限，从而获得其贮存寿命的一种方法，属于电子类产品贮存寿命期限技术领域。本发明的方法可在相对短的贮存时间内，定量、准确的获得整机产品的贮存寿命期限。

主权项

1.一种电子类产品加速贮存的试验方法，其特征在于该方法的步骤为：(1)统计组成电子类产品的元器件的种类和数量；(2)根据电子类产品自然贮存的环境，得到影响电子类产品贮存寿命期限的关键环境因素，得到加速贮存环境应力的种类，再根据步骤(1)得到的元器件在关键环境因素下的使用极限，得到加速贮存环境应力的量级；(3)按照“Arrhenius温度加速模型”计算出各种类元器件在加速贮存环境下的加速因子，Arrhenius温度加速模型如下：式中：tui－在加速贮存环境条件下，第i种元器件贮存的时间；tei－在自然贮存环境条件下，第i种元器件贮存的时间；Eai－第i种元器件的激活能，单位ev，查询元器件手册及标准得到；k－波尔兹曼常数；Tu－自然贮存温度，单位k；Te—加速贮存温度，单位k；AFi－第i种元器件在加速贮存环境下的加速因子；i＝1，2，3…,m,m为电子类产品中元器件种类数,m为自然数；(4)根据步骤(1)中第i种元器件在自然贮存环境下的通用失效率λui，用每种元器件的通用失效率乘以相对应种类元器件的数量，得到第i种元器件在自然贮存环境下的总的通用失效率λUi＝ni·λui，用总的通用失效率再乘以该种类元器件在加速贮存环境下的加速因子AFi，得到第i种元器件在加速贮存环境下总的失效率λAi＝ni·λui·AFi，ni为第i种元器件的个数；λui查询元器件手册及标准得到；(5)将电子类产品各种类元器件在自然贮存环境下总的通用失效率相加，得到电子类产品在自然贮存环境下总的通用失效率将电子类产品各种类元器件在加速贮存环境下总的失效率相加，得到电子类产品在加速贮存环境下总的失效率(6)利用电子类产品在加速贮存环境下总的失效率λAT除以电子类产品在自然贮存环境下总的通用失效率λUT，得到电子类产品在加速贮存环境下的加速因子AFT；(7)用电子类产品需要达到的贮存寿命时间除以步骤(6)得到的电子类产品在加速贮存环境下的加速因子AFT，得到加速贮存所需的试验时间；(8)根据步骤(2)得到的加速贮存环境应力的种类和量级以及步骤(7)得到的试验时间，完成加速贮存试验。