[发明专利]一种高精度电压校准方法

摘要

本发明涉及一种高精度电压校准方法，该方法步骤如下：S1、设置电压值VREF为电压采样基准值；S2、修正电压保护点比较阈值Value；S3、对外部电池电压逐个进行AD采样与校准，并修正总电压采样值value_AD；S4、比较电压保护点比较阈值Value和总电压采样值value_AD的大小并依据一定的判决准则进行判决。与现有技术相比，本发明对电压保护点比较阈值Value的修正，可以实现对电压检测保护点的灵活调整，自动化程度高，满足不同客户不同产品功能需求。其次，对外部电池电压的逐个校准与对总电压的修正，提高了采样电压的精确度。最后，MCU选型AD位数越多，校准后的结果精度越高。

主权项

1.一种高精度电压校准方法,其特征在于：该方法步骤如下：S1、设置电压值VREF为电压采样基准值；S2、修正电压保护点比较阈值Value；S3、对外部电池电压逐个进行AD采样与校准，并修正总电压采样值value_AD；S4、比较电压保护点比较阈值Value和总电压采样值value_AD的大小并依据一定的判决准则进行判决；所述步骤S2还包括如下分步骤：S21、读取外部参考基准电压值VCCREF并判断是否读取成功，若否，循环执行本步骤，若是，执行下一步操作；S22、对电压采样基准电压值VREF进行校准；S23、依据以下公式进行电压保护点比较阈值Value的修正，Value =Vcom/VREF*ADbit其中，Value为电压保护比较阈值变量，Vcom为修正前的电压保护值，VREF为电压采样基准值，ADbit为MCU的AD位值；所述步骤S3还包括如下分步骤：S31、对外部电池电压进行AD采样得到B1_AD，B2_AD, B3_AD, B4_AD……B(N)_AD变量，其中Ｎ≧２；S32、计算上一步骤中各个外部电池电压B(n)_AD的采样误差并校准；S33、依据以下公式进行总电压AD采样值value_AD的修正，Value_AD=∑[B(n)_AD ± error(n)_AD]其中， value_AD为校准后的总电压AD采样值，B(n)_AD为电池B(n)的AD采样值， error(n)_AD为电池B(n)的AD误差值。