[发明专利]坏像素校正方法以及使用该方法的装置有效

专利信息
申请号: 201510547136.9 申请日: 2015-08-31
公开(公告)号: CN105744184B 公开(公告)日: 2018-11-20
发明(设计)人: 孔玮曼 申请(专利权)人: 上海兆芯集成电路有限公司
主分类号: H04N5/367 分类号: H04N5/367
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王珊珊
地址: 上海市张江高科技*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 坏像素校正方法以及使用该方法的装置。本发明的实施例提出一种由处理单元执行的坏像素校正方法。读取一个帧中的一块,以及标示块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个。检测块中所包含的弱像素对,其中包含二个标示为弱像素的像素,以及将弱像素对中的像素从弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素。针对标示为坏像素及弱像素转变的坏像素的每一像素进行校正。
搜索关键词: 像素 校正 方法 以及 使用 装置
【主权项】:
1.一种坏像素校正方法,由处理单元执行,包含:读取一帧中的一块;标示上述块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个;检测上述块中包含的弱像素对,其中上述弱像素对包含二个标示为上述弱像素的像素;在判断到上述弱像素对中被标示为弱像素的两个像素会与标示为坏像素的单独像素的坐标位置连续时或者在判断到被标示为上述弱像素为中心的全通道的mxm像素组成的搜寻块中有且仅有一个坏像素时,将上述弱像素对中的上述像素从上述弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素;以及针对标示为上述坏像素及上述由弱像素转变的坏像素的每一上述像素进行校正,其中,上述标示上述块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个的步骤根据一信息而执行,其中,取得围绕每一上述像素的全通道的nxn像素作为内块,取得围绕每一上述像素的相同通道的nxn像素作为外块,其中m大于n,上述信息指示上述内块中的与每一上述像素具有显著差异的周围像素的数目和围绕上述外块中的与每一上述像素具有显著差异的周围像素的数目。
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