[发明专利]扇出型封装制备方法在审

专利信息
申请号: 201510553354.3 申请日: 2015-09-01
公开(公告)号: CN105206539A 公开(公告)日: 2015-12-30
发明(设计)人: 陈峰;陆原;刘一波;林挺宇 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L23/31
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 殷红梅;韩凤
地址: 214135 江苏省无锡市新区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种扇出型封装制备方法,通过在涂覆临时键合胶的承载片上制作第一绝缘树脂层,并在第一绝缘树脂层上形成开口,第一绝缘树脂层上的开口作为芯片贴装的对准标记,解决了FOWLP封装钝化层与芯片贴装的对准精度问题。同时,无需在承载片上制作对准标记点,减少了工艺流程,降低了成本。
搜索关键词: 扇出型 封装 制备 方法
【主权项】:
扇出型封装制备方法,其特征是,包括以下步骤:(1)承载片表面涂覆临时键合胶,临时键合胶表面再涂覆第一绝缘树脂层,第一绝缘树脂层表面形成开口;(2)将芯片倒贴在承载片上第一绝缘树脂层表面,以第一绝缘树脂层上的开口作为芯片贴装的对准标记,使芯片的焊盘对准第一绝缘树脂层的开口;(3)在第一绝缘树脂层表面覆盖第二绝缘树脂层,将芯片包裹住;(4)去除承载片和临时键合胶;(5)在第一绝缘树脂层和芯片表面形成导电线路,导电线路与芯片的焊盘相连接;(6)在导电线路上覆盖第三绝缘树脂层,并在第三绝缘树脂层表面开窗,露出部分导电线路;(7)在露出的导电线路上制作焊球。
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