[发明专利]一种涂布膜厚的检测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201510556603.4 申请日: 2015-09-01
公开(公告)号: CN105115432A 公开(公告)日: 2015-12-02
发明(设计)人: 吴利峰;李启明;徐海乐;丁鹏;徐先华;熊燕军 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种涂布膜厚的检测系统包括:探针,用于扫描PR膜层表面;反馈电路,用于控制扫描头在垂直方向上移动,以使扫描过程中每一点上所述探针和PR膜层表面之间的作用力保持恒定;光电检测器,用于将反射的激光束转化成电脉冲信号;计算机,用于将所述电脉冲信号转换成或明或暗的区域,以作为所述PR膜层厚度的原始数据。本发明量测时间更短,无需设置复杂的光学系统,量测与涂布过程同步进行,实现涂布膜厚的实时在线测量,可实时控制和调整涂布的膜厚,对监控涂布工艺的稳定性起着至关重要的作用。
搜索关键词: 一种 涂布膜厚 检测 系统 方法
【主权项】:
一种涂布膜厚的检测系统,其特征在于,所述涂布膜厚的检测系统包括:一探针,用于扫描PR膜层表面;一反馈电路,用于控制扫描头在垂直方向上移动,以使扫描过程中每一点上所述探针和PR膜层表面之间的作用力保持恒定;一光电检测器,用于将反射的激光束转化成电脉冲信号;一计算机,用于将所述电脉冲信号转换成或明或暗的区域,以作为所述PR膜层厚度的原始数据。
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