[发明专利]一种涂布膜厚的检测系统及方法在审
申请号: | 201510556603.4 | 申请日: | 2015-09-01 |
公开(公告)号: | CN105115432A | 公开(公告)日: | 2015-12-02 |
发明(设计)人: | 吴利峰;李启明;徐海乐;丁鹏;徐先华;熊燕军 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 430079 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种涂布膜厚的检测系统包括:探针,用于扫描PR膜层表面;反馈电路,用于控制扫描头在垂直方向上移动,以使扫描过程中每一点上所述探针和PR膜层表面之间的作用力保持恒定;光电检测器,用于将反射的激光束转化成电脉冲信号;计算机,用于将所述电脉冲信号转换成或明或暗的区域,以作为所述PR膜层厚度的原始数据。本发明量测时间更短,无需设置复杂的光学系统,量测与涂布过程同步进行,实现涂布膜厚的实时在线测量,可实时控制和调整涂布的膜厚,对监控涂布工艺的稳定性起着至关重要的作用。 | ||
搜索关键词: | 一种 涂布膜厚 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种涂布膜厚的检测系统,其特征在于,所述涂布膜厚的检测系统包括:一探针,用于扫描PR膜层表面;一反馈电路,用于控制扫描头在垂直方向上移动,以使扫描过程中每一点上所述探针和PR膜层表面之间的作用力保持恒定;一光电检测器,用于将反射的激光束转化成电脉冲信号;一计算机,用于将所述电脉冲信号转换成或明或暗的区域,以作为所述PR膜层厚度的原始数据。
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