[发明专利]半导体封装结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201510556815.2 申请日: 2015-09-02
公开(公告)号: CN105047605A 公开(公告)日: 2015-11-11
发明(设计)人: 于大全;钱静娴 申请(专利权)人: 华天科技(昆山)电子有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/488
代理公司: 昆山四方专利事务所 32212 代理人: 盛建德;段新颖
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种半导体封装结构及其制作方法。该半导体封装结构包括:基底,基底的功能面为第一表面,与其相对的另一面为第二表面;第一表面上设置有绝缘层、元件区及元件区周围的若干导电焊垫;第二表面上设有重布线层,重布线层包括铜金属层,铜金属层与导电焊垫电连接;重布线层上设有电连接铜金属层的铜芯焊料球。本发明能够省去在铜金属层上制作镍/金层,使用铜芯焊料球与铜金属层直接,达到增加铜芯焊料球与铜金属层之间的结合力,缩短布线距离以增强信号传输能力,降低生产成本的目的。该制作方法制程简单,且成本较低。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种半导体封装结构,其特征在于,包括:基底(100),所述基底的功能面为第一表面,与其相对的另一面为第二表面;所述第一表面上设置有绝缘层(102)、元件区(103)及元件区周围的若干导电焊垫(101);所述第二表面上设有重布线层(130),所述重布线层包括铜金属层,所述铜金属层与所述导电焊垫电连接;所述重布线层上设有电连接所述铜金属层的铜芯焊料球(150)。
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