[发明专利]测试装置及采用该测试装置的测试方法在审
申请号: | 201510562926.4 | 申请日: | 2015-09-07 |
公开(公告)号: | CN105183225A | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | 王贵云;李学锋 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;京东方(河北)移动显示技术有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G01R31/00;G01R31/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;黄灿 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种测试装置及采用该测试装置的测试方法。该测试装置包括:用于固定待测基板的第一固定结构,待测基板上布置有第一触控线;用于固定测试配合面板的第二固定结构,测试配合面板上布置有第二触控线;第一触控线与第二触控线形成触控模组;用于承载一转接柔性线路板的第三固定结构;信号输入结构,用于通过转接柔性线路板与测试配合面板的线路板和第一触控线的其中一个电连接,并输入触发数据信号;感应信号采集结构,用于获取第一触控线或第二触控线上的触控感应信号。采用该测试装置通过与测试配合面板组合,利用转换柔性线路板,能够用于该待测试基板上的触控线的线路检测,实现对触控线线路不良的有效检测。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 采用 方法 | ||
【主权项】:
1.一种测试装置,其特征在于,包括:用于固定待测基板的第一固定结构,其中所述待测基板上布置有第一触控线;用于固定一测试配合面板的第二固定结构,其中所述测试配合面板上布置有第二触控线;通过所述第一固定结构和所述第二固定结构,所述待测基板与所述测试配合面板相对合,所述第一触控线与所述第二触控线形成触控模组;用于承载一转接柔性线路板的第三固定结构;信号输入结构,用于通过所述转接柔性线路板与所述测试配合面板的线路板和所述第一触控线的其中一个电连接,并输入触发数据信号;感应信号采集结构,用于通过所述转接柔性线路板与所述测试配合面板的线路板和所述第一触控线中的其中另一个电连接,获取电连接的所述第一触控线或所述测试配合面板上的所述第二触控线上的触控感应信号;所述第二固定结构可翻转的与所述第一固定结构连接,所述第二固定结构包括相对于所述第一固定结构翻转打开、使所述测试配合面板与所述待测基板之间远离的状态以及相对于所述第一固定结构扣合、使所述待测基板与所述测试配合面板相对合的状态。
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