[发明专利]以闭合电路组检测固态物品损耗程度的方法和装置在审
| 申请号： | 201510597543.0 | 申请日： | 2015-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN105301053A | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 薛骥;薛多多 | 申请（专利权）人： | 薛骥 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300381 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种以闭合电路组检测固态物品损耗程度的方法和装置，依据基准点0和固态物品损耗极限点重合沿物品损耗方向与物品复合一体、与物品同步损耗的闭合电路组损伤状态检测固态物品损耗程度。 | ||
| 搜索关键词： | 闭合电路 检测 固态 物品 损耗 程度 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种以闭合电路组检测固态物品损耗程度的方法和装置，其特征在于：依据与物品同步损耗闭合电路组损伤状态检测固态物品损耗程度。
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