[发明专利]一种带重复性优化装置的双光路分光测色仪和优化方法有效
申请号: | 201510606503.8 | 申请日: | 2015-09-22 |
公开(公告)号: | CN105157842B | 公开(公告)日: | 2017-07-18 |
发明(设计)人: | 袁琨;吴逸萍 | 申请(专利权)人: | 杭州彩谱科技有限公司;中国计量学院 |
主分类号: | G01J3/46 | 分类号: | G01J3/46 |
代理公司: | 杭州浙科专利事务所(普通合伙)33213 | 代理人: | 吴秉中 |
地址: | 310018 浙江省杭州市经济技*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种带重复性优化装置的双光路分光测色仪,被测样品夹持在第一积分球上的反射样品夹持位置,包括第一积分球和第二积分球,光源发出的光从第一积分球侧面的光入射孔入射至积分球内部,在积分球内经充分均匀化;第一积分球上主光路出光孔位置为与被测样品表面法线成‑8°角方向在积分球内壁上的投影;在第一积分球内壁上与被测样品表面法线成30°方向处设置辅光路出光孔;在主光路和辅光路之间设有第二积分球。本发明解决了由温度变化引起的传感器之间的相应效率一致性问题。经实验,本发明的中推荐的分光测色仪设计方法短期测量重复性△E<0.03,在温度大范围变化时重复性指标没有明显变化,相对于传统技术有显著改善。 | ||
搜索关键词: | 一种 重复性 优化 装置 双光路 分光 测色仪 方法 | ||
【主权项】:
一种双光路分光测色仪的重复性优化方法,包括如下步骤:在开机校准时,进行传感器校准和黑校准:传感器校准方法:点亮卤钨灯,得到主、辅通道的采样值分别为和;计算比例系数;开机黑校准是使用仪器对标准黑腔反射率进行测量,得到主、辅通道的采样值分别为和;在实际测量时,测量过程分为两个步骤:步骤1:点亮卤钨灯,对主、辅通道进行校准测试,获得当前仪器两个通道的采样结果;步骤2:熄灭卤钨灯,点亮氙灯,对被测样品进行测量,获得仪器主、辅通道的采样结果;对采样数据进行如下修正,为修正后的主通道采样值,为修正后的辅通道采样值;取每个波长的最终采样强度为:通过定标,可将转化为被测样品的反射率数据。
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