[发明专利]一种小芯片精密测量机在审
申请号: | 201510621203.7 | 申请日: | 2015-09-25 |
公开(公告)号: | CN105195439A | 公开(公告)日: | 2015-12-30 |
发明(设计)人: | 汪洋 | 申请(专利权)人: | 南京时恒电子科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;B07C5/02 |
代理公司: | 南京同泽专利事务所(特殊普通合伙) 32245 | 代理人: | 闫彪 |
地址: | 211121 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种小芯片精密测量机,属于电子测温器件测试技术领域。该机包括测试控制电路以及斜置在机身上的旋转测试盘,测试盘的下部装有形成接料池的月形板,测试盘具有圆周均布的容料孔;容料孔的前部为可容纳小芯片的容料段,底部为孔径小于容料段的通气段;测试盘的一边装有测试臂,测试臂的端部具有尖端安装测试头的测针;测试盘的上部前侧固定排出座,排出座上具有可与容料孔位置对应的分档排出孔,测试盘的后侧装有位置分别对应排出孔的吹气嘴,排出孔的前侧分别装有通往分档集料仓的导料管;测试头通过测试控制电路分别接各吹气嘴控制阀的受控端。本发明使测试效率大大提高,并且有利于保证测试精度,还提高了芯片合格率。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 精密 测量 | ||
【主权项】:
一种小芯片精密测量机,包括测试控制电路,其特征在于:还包括斜置在机身上的旋转测试盘,所述测试盘的下部装有形成接料池的月形板,所述测试盘具有圆周均布的容料孔;所述容料孔的前部为可容纳小芯片的容料段,底部为孔径小于容料段的通气段;所述测试盘的一边装有测试臂,所述测试臂的端部具有尖端安装测试头的测针;所述测试盘的上部前侧固定排出座,所述排出座上具有可与容料孔位置对应的分档排出孔,所述测试盘的后侧装有位置分别对应所述排出孔的吹气嘴,所述排出孔的前侧分别装有通往分档集料仓的导料管;所述测试头通过测试控制电路分别接各吹气嘴控制阀的受控端。
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