[发明专利]粒子分析装置及其异常判断方法和质控方法有效
| 申请号： | 201510631184.6 | 申请日： | 2015-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN105466840B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 横山光士;森崎博实 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 杨永波;刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能更加确切地判断染色步骤异常的异常判断方法、质量控制方法和粒子分析装置。分析部件60在设定为质量控制模式时让试样制备部件40混合含有荧光色素的试剂41、被荧光色素染色的第一质控粒子12a和不被荧光色素染色且发荧光的第二质控粒子12b，制备混合物，获取表示第一质控粒子12a所发出的荧光的检测结果的第一管理值和表示第二质控粒子12b所发出的荧光的检测结果的第二管理值，根据从第一管理值和第二管理值算出的值，至少判断试样制备部件40中的染色异常。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 分析 装置 及其 异常 判断 方法 | ||
【主权项】：
1.一种具有试样制备部件和光学检测部件的粒子分析装置中的异常判断方法，所述异常判断方法包括以下步骤：通过所述试样制备部件将含荧光色素的试剂、能够被所述荧光色素染色的第一质控粒子、以及不被所述荧光色素染色且发荧光的第二质控粒子混合，制成混合物；通过所述光学检测部件让所述混合物流入流动室，用光照射在所述流动室流动的所述第一质控粒子和所述第二质控粒子，检测来自所述第一质控粒子和所述第二质控粒子的荧光；获取表示所述第一质控粒子所发出的荧光的检测结果的第一管理值和表示所述第二质控粒子所发出的荧光的检测结果的第二管理值；根据从所述第一管理值和所述第二管理值算出的第三管理值是否偏离标准范围来至少判断所述试样制备部件中的染色异常。
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