[发明专利]SOC芯片频率测试方法

摘要

本发明公开了一种SOC芯片频率测试方法，使用ATE测试芯片时钟系统，芯片通过测试端口传输信号到信号通道，然后再传输到ATE中进行测试。这样每个测试信号对应一个信号通道。对测试结果比特化，得到测试数据。启用ATE上HRAM的OneBitMode，将比特化数据放入HRAM中。对测试数据进行快速傅立叶变换FFT处理，并加上汉宁窗以减少误差并且更容易进行插值运算。本算法优势在于通过加汉宁窗，有利于插值运算并且筛选出FFT之后的多余信息，最后通过插值运算得到最终频率。并且FFT算明显耗时短，明显减少测试时间。而通过插值运算明显提升测试精度，最终提升测试效率。

主权项

一种SOC芯片频率测试方法，使用ATE测试芯片时钟系统，其特征在于，步骤如下：a.SOC芯片通过测试端口传输信号到对应的信号通道，然后再传输到ATE中进行测试，使每个测试信号对应一个信号通道，对测试结果信息进行比特化，得到测试数据；b.启用ATE上HRAM的OneBitMode，将在所述步骤a中得到的比特化的测试数据放入HRAM中存储；c.调用HRAM中存储的测试数据，对测试数据进行快速傅立叶变换FFT处理，然后对FFT处理后的数据进行汉宁窗处理，最后采用插值计算方法，最终得到SOC芯片频率；在本步骤中，采用插值计算方法时，首先判断和大小，然后选择如下计算公式计算SOC芯片频率：或者在上述公式中，G为对频率傅立叶变换后结果，f为SOC芯片频率，kmax为频率粗略估计值，s为r为