[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201510673799.5 申请日: 2015-10-16
公开(公告)号: CN105529309B 公开(公告)日: 2019-01-08
发明(设计)人: 大宅大介;磐浅辰哉 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L23/15 分类号: H01L23/15;H01L23/498
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于提供一种半导体装置,其能够抑制在陶瓷基板中产生裂纹,并将陶瓷间金属作为电极使用。具有:陶瓷间金属,其具有中间部、第1上攀部、第2上攀部、第1连接部以及第2连接部,其中,该中间部夹在第1陶瓷基板的上表面和第2陶瓷基板的下表面之间,该第1上攀部形成于该第2陶瓷基板的上表面,该第2上攀部形成于该第2陶瓷基板的上表面,该第1连接部与该第2陶瓷基板的外缘相接并将该中间部和该第1上攀部连接,该第2连接部与该第2陶瓷基板的外缘相接并将该中间部和该第2上攀部连接;电路图案,其由金属形成在该第2陶瓷基板之上;以及半导体元件,其设置在该电路图案之上,流过该半导体元件的电流在该陶瓷间金属中流动。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于,具有:第1陶瓷基板;第2陶瓷基板;陶瓷间金属,其具有中间部、第1上攀部、第2上攀部、第1连接部以及第2连接部,其中,该中间部夹在所述第1陶瓷基板的上表面和所述第2陶瓷基板的下表面之间,该第1上攀部形成于所述第2陶瓷基板的上表面,该第2上攀部形成于所述第2陶瓷基板的上表面,该第1连接部与所述第2陶瓷基板的外缘相接并将所述中间部和所述第1上攀部连接,该第2连接部与所述第2陶瓷基板的外缘相接并将所述中间部和所述第2上攀部连接;电路图案,其由金属形成在所述第2陶瓷基板之上;半导体元件,其设置在所述电路图案之上;以及基座板,其具有与所述第1陶瓷基板的下表面相接的平坦部以及与所述第1陶瓷基板的外缘和上表面相接的厚膜部,流过所述半导体元件的电流在所述陶瓷间金属中流动。
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