[发明专利]光谱计、光谱计的制造方法以及光谱计的操作方法有效
| 申请号： | 201510718129.0 | 申请日： | 2015-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN105571717B | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | C·奥伯米勒 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/02 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 郑立柱;张昊 |
| 地址： | 德国诺伊*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及光谱计、光谱计的制造方法以及光谱计的操作方法。在各个实施例中，提供了一种光谱计。光谱计可以包括：第一镜单元，对于至少一个波长或波长范围的电磁辐射是半透明的；以及第二镜单元，包括面对第一镜单元的第一区域和第二区域，第一区域和第二区域的至少一部分与第一镜单元隔开，第一区域对于至少一个波长或波长范围的电磁辐射是至少部分反射的，第二区域包括光电检测器的至少一部分，光电检测器被配置为检测至少一个波长或波长范围的电磁辐射。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 制造 方法 以及 操作方法 | ||
【主权项】：
1.一种光谱计，包括：第一镜单元，对于至少一个波长或波长范围的电磁辐射是半透明的；其中所述第一镜单元由块状半透明材料形成；以及第二镜单元，包括面对所述第一镜单元的第一区域和第二区域，其中所述第一区域和所述第二区域的至少一部分与所述第一镜单元隔开，其中所述第一区域对于所述至少一个波长或波长范围的电磁辐射是至少部分反射的，其中所述第二区域包括光电检测器的至少一部分，以及其中所述光电检测器被配置为检测所述至少一个波长或波长范围的电磁辐射，其中所述第一区域至少部分地环绕所述第二区域。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英飞凌科技股份有限公司，未经英飞凌科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510718129.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
