[发明专利]一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法有效
| 申请号： | 201510733835.2 | 申请日： | 2015-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN105352443A | 公开（公告）日： | 2016-02-24 |
| 发明（设计）人： | 王希林;王晗;叶蔚安;贾志东 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 杨洪龙 |
| 地址： | 518055 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法，包括如下步骤：S1、用设定的脉冲激光对RTV涂层进行轰击，记录所述RTV涂层被击穿时激光的轰击次数x；S2、根据f(x)＝ax+b计算所述RTV涂层的厚度f(x)；其中，参数a和b通过如下实验步骤确定：用所述设定的脉冲激光对所述RTV涂层进行轰击，记录击穿的RTV涂层的厚度与对应激光轰击的次数；拟合曲线f(x)＝ax+b，得到所述参数a和b。不论绝缘子RTV涂层运行年限，只要在校核后通过测量激光的轰击次数就可以获得RTV涂层的厚度值，适宜于现场应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 绝缘子 rtv 涂层 厚度 测量方法 | ||
【主权项】：
一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法，其特征是，包括如下步骤：S1、用设定的脉冲激光对RTV涂层进行轰击，记录所述RTV涂层被击穿时激光的轰击次数x；S2、根据f(x)＝ax+b计算所述RTV涂层的厚度f(x)；其中，参数a和b通过如下实验步骤确定：用所述设定的脉冲激光对所述RTV涂层进行轰击，记录击穿的RTV涂层的厚度与对应激光轰击的次数；拟合曲线f(x)＝ax+b，得到所述参数a和b。
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