[发明专利]优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法在审
| 申请号： | 201510744147.6 | 申请日： | 2015-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN105426282A | 公开（公告）日： | 2016-03-23 |
| 发明（设计）人： | 何全;付彦淇 | 申请（专利权）人： | 天津津航计算技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 刘东升 |
| 地址： | 300308 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法，包括以下步骤：将待回归的批量用例放入等待队列；用例提交控制器根据当前状态控制量控制待回归用例的出队、运行；所述状态控制量包括用例对功能覆盖贡献率；全部回归用例提交到服务器上执行完成之后，使用分析脚本统计用例运行结果，包括用例成功运行比率、代码覆盖率、功能覆盖率；分析统计数据，输出验证报告。本发明通过对每个用例覆盖贡献率的实施控制，及时结束覆盖贡献率低的用例执行过程，使得回归占用服务器的时间就会缩短，从而达到充分利用服务器的有限资源、提高收集覆盖率的收集速度的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 优化 数字 芯片 验证 平台 测试 回归 次数 方法 | ||
【主权项】：
一种优化数字芯片验证平台测试用例回归次数的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：将待回归的批量用例放入等待队列；步骤二：用例提交控制器根据当前状态控制量控制待回归用例的出队、运行；所述状态控制量包括用例对功能覆盖贡献率；步骤三：全部回归用例提交到服务器上执行完成之后，使用分析脚本统计用例运行结果，包括用例成功运行比率、代码覆盖率、功能覆盖率、用例完成时间；步骤四：分析步骤三得到的统计数据，输出验证报告。
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