[发明专利]具有亮点缺陷的像素的修复方法、阵列基板及液晶面板有效
| 申请号： | 201510760127.8 | 申请日： | 2015-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN105425433B | 公开（公告）日： | 2018-10-30 |
| 发明（设计）人： | 阙祥灯 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1362;H01L27/12 |
| 代理公司： | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人： | 孙伟峰;武岑飞 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种具有亮点缺陷的像素的修复方法，其包括：在过孔中打点熔融，使像素电极(113)与薄膜晶体管的漏电极(112b)连接接触；将连续的公共电极(130)切断分离，以使位于开关区域(10a)的公共电极(130)和位于像素区域(10b)的公共电极(130)彼此分离；将位于公共电极(130)的切断分离处之上的像素电极(113)去除，且使位于开关区域(10a)的像素电极(113)和位于像素区域(10b)的像素电极(113)彼此连接。本发明还提供了一种阵列基板及液晶面板。本发明通过将位于开关区域和位于像素区域中的公共电极切断分离，从而消除像素的亮点缺陷，并且将具有亮度缺陷的像素修复成能够正常发光的像素。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 亮点 缺陷 像素 修复 方法 阵列 液晶面板 | ||
【主权项】：
1.一种具有亮点缺陷的像素的修复方法，所述像素设置在开关区域(10a)及位于所述开关区域(10a)一侧的像素区域(10b)中；所述像素包括：在所述开关区域(10a)和所述像素区域(10b)中形成的连续的公共电极(130)；在所述开关区域(10a)中形成的且位于所述公共电极(130)之上的薄膜晶体管；在所述开关区域(10a)和所述像素区域(10b)形成的且覆盖薄膜晶体管的钝化层以及在位于所述开关区域(10a)中的所述钝化层中形成的过孔；在所述像素区域(10b)和所述开关区域(10a)中形成的且位于所述钝化层之上的像素电极(113)；其特征在于，所述修复方法包括：在所述过孔中打点熔融，使所述像素电极(113)与所述薄膜晶体管的漏电极(112b)连接接触；将所述连续的公共电极(130)切断分离，以使位于所述开关区域(10a)的公共电极(130)和位于所述像素区域(10b)的公共电极(130)彼此分离；将位于所述公共电极(130)的切断分离处之上的像素电极(113)去除，且使位于所述开关区域(10a)的像素电极(113)和位于所述像素区域(10b)的像素电极(113)彼此连接，同时使剩余的像素电极(113)与所述漏电极(112b)连接，从而将所述具有亮点缺陷的像素形成为不具有存储电容器的像素。
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