[发明专利]SOC芯片的测试方法在审
| 申请号： | 201510800344.5 | 申请日： | 2015-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN105301480A | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 舒鹏 | 申请（专利权）人： | 四川和芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种SOC芯片的测试方法，其包括以下步骤：a.编写对应的测试程序，并初始化测试环境；b.加载测试程序至中央处理器；c.测试数据发生器根据加载的测试程序在系统函数库中调用对应的系统函数并生成测试事务列表；d.根据事务列表测试待测SOC芯片；e.判断待测SOC芯片的测试覆盖率。本发明的SOC芯片的测试方法能够很好地帮助验证工程师针对SOC芯片进行测试验证。在本发明实施例中验证工程师并不需要了解底层硬件的具体实施，验证工程师所编写的系统测试程序能够很好地移植到其它项目中，简化了测试过程，通用性强。 | ||
| 搜索关键词： | soc 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种SOC芯片的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：a.编写对应的测试程序，并初始化测试环境；b.加载测试程序至中央处理器；c.测试数据发生器根据加载的测试程序在系统函数库中调用对应的系统函数并生成测试事务列表；d.根据事务列表测试待测SOC芯片；e.判断待测SOC芯片的测试覆盖率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四川和芯微电子股份有限公司，未经四川和芯微电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510800344.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种无源触点测试装置
- 下一篇：一种电路板检测方法
